技能試験のEn数評価によるγ線スペクトロメトリの精度向上のための課題の抽出
(上位階層ページタイトル/会議名: 第53回アイソトープ・放射線研究発表会[53rd Annual Meeting on Radioisotope and Radiation Researches])
著者: 古川 理央(産業技術総合研究所); 三浦 勉(産業技術総合研究所); 海野 泰裕(産業技術総合研究所); 柚木 彰(産業技術総合研究所); 濱松 潮香(農業・食品産業技術総合研究機構); 八戸 真弓(農業・食品産業技術総合研究機構); 水井 雅之(セイコー・イージーアンドジー); 板津 英輔(セイコー・イージーアンドジー); 曽宮 亮一(セイコー・イージーアンドジー)
掲載日/会議開催日: 2016-07-06
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