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タイトル照射後試験解析の不確かさが臨界性評価に与える影響評価
翻訳タイトルImpact of the uncertainty of the PIE analysis on the criticality analysis
著者Yin, Xiangbiao(日本原子力研究開発機構)
著者駒 義和(日本原子力研究開発機構)
著者稲葉 優介(東京工業大学)
著者竹下 健二(東京工業大学)
会議開催日2018-03-26
言語jpn
ページ数1p.
種別proceedings
ファイル形式PDF
分類5-1-2-2 実験および/または数値解析, シミュレーション
分類5-1-3-3 数値モデリング, 分析
内容セッション:301-1 炉物理,核データの利用,臨界安全
情報源外部 ウェブページへ
会議名日本原子力学会2018年春の年会
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URIhttps://f-archive.jaea.go.jp/dspace/handle/faa/161250
WARP保存日2018-10-31