閉じる

データ詳細

    

<
Back
分類ツリー表示分類ツリー非表示
このページの閲覧数 : 231
タイトルFIB-TOF-SIMS装置による環境試料中のセシウム存在形態に関する研究
翻訳タイトルStudy on Cs contained in environmental specimen by using FIB-TOF-SIMS
著者坂本 哲夫 (工学院大学・工学部)
著者奥村 丈夫 ((株)日本中性子光学)
著者川上 勇 (阿藤工務店)
会議開催日2013-07-03
言語jpn
種別proceedings
ファイル形式TEXT(紙媒体)
分類6-1-4 環境保護と修復に関するR&D
上位階層分類(自動付与)6-1 環境への影響   
内容セッション:「東電福島第一原発事故関連 食品・線量測定」
情報源文献複写申込へ
会議名第50回アイソトープ・放射線研究発表会
関連するコンテンツ
URIhttps://f-archive.jaea.go.jp/dspace/handle/faa/41882
WARP保存日2014-03-31