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 掲載日/会議開催日
1 放射性セシウムのマイクロイメージングのためのレーザーイオン化質量顕微鏡の開発

坂本 哲夫(工学院大学); 奥村 丈夫(日本中性子光学); 川上 勇(阿藤工務店)

 2016-07-06
2 高分解能TOF-SIMS分析装置用いたRIMS法による放射性セシウムのイメージング

大石 乾詞(工学院大学); 坂本 哲夫(工学院大学); 高松 峻英(名古屋大学); 富田 英生(名古屋大学)

 2015-09-09
3 レーザー共鳴イオン化法によるストロンチウム同位体分析法の開発

宮部 昌文(国立研究開発法人日本原子力研究開発機構); 大場 正規(国立研究開発法人日本原子力研究開発機構); 赤岡 克昭(国立研究開発法人日本原子力研究開発機構); 若井田 育夫(国立研究開発法人日本原子力研究開発機構); 長谷川 秀一(東京大学)

 2015-03-20
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