非接触測定法を用いた燃料デブリ臨界解析技術の高度化 4 - アクティブ中性子法を用いた燃料デブリ臨界特性測定システムによる臨界特性評価

(上位階層ページタイトル/会議名: 日本原子力学会2024年春の年会[2024 Annual Meeting of Atomic Energy Society of Japan])

著者: 西山 潤(東京都市大学); 真鍋 征也(産業技術総合研究所); 原野 英樹(産業技術総合研究所); 小原 徹(東京工業大学)

掲載日/会議開催日: 2024-03-27

非接触測定法を用いた燃料デブリ臨界解析技術の高度化 5 - アクティブ中性子法を用いた燃料デブリ臨界特性測定システムの性能試験

(上位階層ページタイトル/会議名: 日本原子力学会2024年春の年会[2024 Annual Meeting of Atomic Energy Society of Japan])

著者: 真鍋 征也(産業技術総合研究所); 西山 潤(東京都市大学); 原野 英樹(産業技術総合研究所); 小原 徹(東京工業大学)

掲載日/会議開催日: 2024-03-27

技能試験に併設した配付スペクトル分析演習によるγ線スペクトル分析技術の確認

(上位階層ページタイトル/会議名: 第60回アイソトープ・放射線研究発表会[The 60th Annual Meeting on Radioisotopes and Radiation Researches])

著者: 阿部 敬朗(セイコー・イージーアンドジー(株)); 板津 英輔(セイコー・イージーアンドジー(株)); 水井 雅之(セイコー・イージーアンドジー(株)); 原田 克哉(セイコー・イージーアンドジー(株)); 小野 拓実(セイコー・イージーアンドジー(株)); 三浦 勉(産業技術総合研究所); 古川 理央(産業技術総合研究所); 佐藤 泰(産業技術総合研究所); 原野 英樹(産業技術総合研究所); 八戸 真弓(農業･食品産業技術総合研究機構)

掲載日/会議開催日: 2023-07-07

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高純度ゲルマニウム半導体検出器を用いた微小試料測定における試料の位置変化の検出効率への影響

(上位階層ページタイトル/会議名: 第3回日本放射線安全管理学会・日本保健物理学会合同大会(日本放射線安全管理学会第20回学術大会/日本保健物理学会第54回研究発表会)[54th Annual Meeting of Japan Health Physics Society/Japanese Society of Radiation Safety Management 20th Annual Meeting])

著者: 古川 理央(産業技術総合研究所); 佐藤 泰(産業技術総合研究所); 原野 英樹(産業技術総合研究所)

掲載日/会議開催日: 2021-12-02