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口頭発表口頭発表

特性X線の測定による放射性セシウムの表層放射能面密度と浸透深さの測定、現地測定結果

(上位階層ページタイトル/会議名: 第3回環境放射能除染研究発表会 [The 3rd Workshop of Remediation of Radioactive Contamination in Environment])

著者: 平野 靖浩 (エヌ・エム・ピイ ビジネスサポート (株)); 高橋 正二 (高橋科学); 片山 (エヌ・エム・ピイ ビジネスサポート (株))

掲載日/会議開催日: 2014-07-03

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口頭発表口頭発表

特性X線測定による放射性セシウムの表層放射能面密度と浸透深さ測定法

(上位階層ページタイトル/会議名: 第15回「環境放射能」研究会 [15th Workshop on Environmental Radioactivity])

著者: 高橋 正二(高橋科学); 平野 靖浩(エヌ・エム・ピイビジネスサポート(株)); 片山 均(エヌ・エム・ピイビジネスサポート(株))

掲載日/会議開催日: 2014-03-07

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口頭発表口頭発表

特性X線測定による放射性セシウムの表層放射能面密度(Bq/cm2)測定法と現地テスト結果

(上位階層ページタイトル/会議名: 第2回環境放射能除染研究発表会 [The 2nd Workshop of Remediation of Radioactive Contamination in Environment])

著者: 日下 部治; 高橋 正二 (高橋科学); 片山 (エヌ・エム・ピイビジネスサポート (株))

掲載日/会議開催日: 2013-06-05

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