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口頭発表口頭発表

技能試験に併設した配付スペクトル分析演習によるγ線スペクトル分析技術の確認

(上位階層ページタイトル/会議名: 第60回アイソトープ・放射線研究発表会[The 60th Annual Meeting on Radioisotopes and Radiation Researches])

著者: 阿部 敬朗(セイコー・イージーアンドジー(株)); 板津 英輔(セイコー・イージーアンドジー(株)); 水井 雅之(セイコー・イージーアンドジー(株)); 原田 克哉(セイコー・イージーアンドジー(株)); 小野 拓実(セイコー・イージーアンドジー(株)); 三浦 勉(産業技術総合研究所); 古川 理央(産業技術総合研究所); 佐藤 泰(産業技術総合研究所); 原野 英樹(産業技術総合研究所); 八戸 真弓(農業・食品産業技術総合研究機構)

掲載日/会議開催日: 2023-07-07

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口頭発表口頭発表

ガンマ線スぺクトロメトリーの測定条件を見直した技能試験による測定品質向上を目指した取組み

(上位階層ページタイトル/会議名: 第54回アイソトープ・放射線研究発表会[54th Annual Meeting on Radioisotope and Radiation Researches])

著者: 水井 雅之(セイコー・イージーアンドジー(株)); 板津 英輔(セイコー・イージーアンドジー(株)); 服部 友紀(セイコー・イージーアンドジー(株)); 阿部 敬朗(セイコー・イージーアンドジー(株)); 古川 理央(産業技術総合研究所); 海野 泰裕(産業技術総合研究所); 三浦 勉(産業技術総合研究所); 柚木 彰(産業技術総合研究所); 八戸 真弓(農業・食品産業技術総合研究機構); 濱松 潮香(農業・食品産業技術総合研究機構)

掲載日/会議開催日: 2017-07-05

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