CdTe半導体検出器を用いたディジタル計測システムにおける高計数率対応

(上位階層ページタイトル/会議名: 日本原子力学会2019年春の年会[2019 Annual Meeting of Atomic Energy Society of Japan])

著者: 髙﨑 史晟(東京都市大学); 河原林 順(東京都市大学); 持木 幸一(東京都市大学); 羽倉 尚人(東京都市大学)

掲載日/会議開催日: 2019-03-21

化合物半導体検出器を用いたディジタル計測システムの高計数率対応のための基礎研究

(上位階層ページタイトル/会議名: 第55回アイソトープ・放射線研究発表会[55th Annual Meeting on Radioisotope and Radiation Researches])

著者: 髙﨑 史晟(東京都市大学); 河原林 順(東京都市大学); 浦垣 俊幸(東京都市大学); 持木 幸一(東京都市大学); 羽倉 尚人(東京都市大学)

掲載日/会議開催日: 2018-07-04

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